X-RAY鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的二次X射線的強度來。

測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右

所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

2000L型韓國微先鋒X-RAY鍍層測厚儀

規格型號如下圖

XRF-2020鍍層測厚儀X射線膜厚儀

原產地：韓國

品牌：Micropioneer微先鋒

型號：XRF-2020

適應于各類五金電鍍,電子連接器端子等。

可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鈀,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。

應用廣泛，適應電鍍生產企業，產品來料檢測等。

儀器特點:

全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量

功能及應用：

檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等合金鍍層：

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

X射線電鍍測厚儀韓國先鋒XRF-2020

測量精度：

表層：±5%以內，第二層：±10%以內，第三層：±15%以內

韓國Miceopioneer

XRF-2020測厚儀型號規格

L型：測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

韓國先鋒XRF-2020

儀器配置全自動臺面，自動雷射對焦,多實現多點自動測量

2000L型韓國微先鋒X-RAY鍍層測厚儀

微先鋒XRF-2000電鍍層測厚儀